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原子力显微镜

型号规格:
生产厂家:
主要功能:
AFM一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。
仪器预约

1. 样品状态:可为粉末、液体、块体、薄膜样品;

2. 粉末样品:常规测试项目样品起伏一般不超过5微米,特殊测试项目样品起伏一般不超过1um,提供20mg,液体不少于1ml,尺寸过大请提前咨询客户经理;

3. 粉末/液体样品请务必备注好制样条件,包括分散液,超声时间及配制浓度;

4. 薄膜或块状样品尺寸要求:长宽0.5-3cm之间,厚度0.1-1cm之间,表面粗糙度不超过5um,一定要标明测试面!块状样品需要固定好,避免在寄送过程产生晃动或摩擦影响测试结果!

5. 测试PFM、KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的材料需要将样品制备在导电基底上,基底大小符合块状样品的尺寸要求,KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的样品需要导电或至少为半导体

6. PFM,KPFM测试需要样品表面十分平整,样品粗糙度最好在10-200nm之间,粉末样品测试很难测到较好结果,下单前请确保风险可接受。