1.X射线光源额定电压:≥30kV
2.子探测器个数:≥2560个
3.整个探测器的背景:≤0.1 cps
4. 探测器本身的能量分辨率,≤400eV
5. 物相检索:含原始数据直接检索功能
6.无标样晶粒大小分析及微观应力分析
7. 粉末数据指标化、结构精修、从头结构解析以及无标样定量分析软件
非原位样品:
1、粉末样品请准备至少20 mg,0.1 g以上最好,量少可以用微量室,但是效果相对不是很好;
2、需要粒度均匀(粒度在45 um左右或过200目筛子),手摸无颗粒感,面粉质感;
3、块状样品要求长宽1-2 cm(一般不小于1 cm),厚度不超出15 mm,需要注明测试面,测试面需要平整光洁。
原位样品:
1、请自行准备可直接测试电极片/隔膜/电解液(Li/Na/K对电极除外);
2、请将待测电极材料涂覆在薄集流体上(厚度
3、请提供隔膜>3片;
4、请提供电解液>2 mL。
1、对于原位/非原位测试,请明确测试条件,一个测试条件算作一次测试;
2、对于原位测试,计费时间为采样时间,包含静置采样;
4、普通样品收到样品后平均3-5个工作日完成测试;
5、原位样品收到样品后平均7-10个工作日完成测试;
6、如有异议,请于收到结果后7个工作日内反馈,逾期不再受理。