1.X射线光源额定电压：≥30kV

2.子探测器个数：≥2560个

3.整个探测器的背景：≤0.1 cps

4. 探测器本身的能量分辨率，≤400eV

5. 物相检索：含原始数据直接检索功能

6.无标样晶粒大小分析及微观应力分析

7. 粉末数据指标化、结构精修、从头结构解析以及无标样定量分析软件

非原位样品：

1、粉末样品请准备至少20 mg，0.1 g以上最好，量少可以用微量室，但是效果相对不是很好；

2、需要粒度均匀（粒度在45 um左右或过200目筛子），手摸无颗粒感，面粉质感；

3、块状样品要求长宽1-2 cm（一般不小于1 cm），厚度不超出15 mm，需要注明测试面，测试面需要平整光洁。

原位样品：

1、请自行准备可直接测试电极片/隔膜/电解液（Li/Na/K对电极除外）；

2、请将待测电极材料涂覆在薄集流体上（厚度>16mm，极片>3片；

3、请提供隔膜>3片；

4、请提供电解液>2 mL。

1、对于原位/非原位测试，请明确测试条件，一个测试条件算作一次测试；

2、对于原位测试，计费时间为采样时间，包含静置采样；

4、普通样品收到样品后平均3-5个工作日完成测试；

5、原位样品收到样品后平均7-10个工作日完成测试；

6、如有异议，请于收到结果后7个工作日内反馈，逾期不再受理。